更新時間:2024-05-06
產(chǎn)品型號:XRS-KDB-2B
廠家性質:經(jīng)銷商
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本設備采用四探針法專用于金屬薄膜方塊電阻,XRS-KDB-2B 測試儀嚴格參照國際標準SEMI MF 374-0307 對設備的要求研制,運用了先進的半導體薄層測量技術,無需特別制樣,可測不規(guī)則的金屬薄膜。
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