紫外輻照計  紫外線強度檢測儀  型號：XRS-uv-340型

該儀器適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

u主要性能指標

※波長范圍及峰值波長:

uv-340探頭:λ:(315~370)nm;λp=340nm

※輻照度測量范圍:

(0.1~199.9×103)μw/cm2

※紫外帶外區(qū)雜光:

uv340:小于0.05%

※余弦特性:

符合國家二級光照度標準

※示值相對誤差:

±10%

※響應時間:

1秒

※使用環(huán)境:

溫度(0~40)℃;濕度<85%rh

※尺寸和重量:

180mm×80mm×36mm;0.2kg

※電源:

9v積層電池(6f22型)一只

紫外輻照計  紫外線強度檢測儀  型號：XRS-uv-340型

該儀器適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。

u主要性能指標

※波長范圍及峰值波長:

uv-340探頭:λ:(315~370)nm;λp=340nm

※輻照度測量范圍:

(0.1~199.9×103)μw/cm2

※紫外帶外區(qū)雜光:

uv340:小于0.05%

※余弦特性:

符合國家二級光照度標準

※示值相對誤差:

±10%

※響應時間:

1秒

※使用環(huán)境:

溫度(0~40)℃;濕度<85%rh

※尺寸和重量:

180mm×80mm×36mm;0.2kg

※電源:

9v積層電池(6f22型)一只